Dados Gerais do Componente Curricular
| Tipo do Componente Curricular: |
DISCIPLINA |
| Unidade Responsável: |
INSTITUTO DE CIÊNCIAS TECNOLÓGICAS (11.88) |
| Código: |
ELT017.1 |
| Nome: |
CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITAIS |
| Carga Horária Teórica: |
48 h. |
| Carga Horária Prática: |
0 h. |
| Carga Horária de Ead: |
0 h. |
| Carga Horária Total: |
48 h. |
| Pré-Requisitos: |
( ( ELT010 ) E ( ELT013 ) )
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| Co-Requisitos: |
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| Equivalências: |
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| Excluir da Avaliação Institucional: |
Não |
| Matriculável On-Line: |
Sim |
| Horário Flexível da Turma: |
Não |
| Horário Flexível do Docente: |
Sim |
| Obrigatoriedade de Nota Final: |
Sim |
| Pode Criar Turma Sem Solicitação: |
Sim |
| Necessita de Orientador: |
Não |
| Possui Subturmas: |
Não |
| Exige Horário: |
Sim |
| Quantidade de Avaliações: |
2 |
| Ementa/Descrição: |
Introdução: história. Transistores MOS. Lógica CMOS. Tecnologia de fábrica e layout de circuitos integrados. Particionamento de projetos. Projetos lógicos, de circuito e físico; circuitos digitais MOS: Caracterização de circuitos lógicos. Estilos de projetos de sistemas digitais. Projeto e análise de desempenho do inversor CMOS. Circuitos com portas CMOS. Circuitos com transistores de passagem. Circuitos dinâmicos; Subsistemas matriciais (memórias): tipos e arquiteturas. Células RAM. Memórias ROM. Decodificadores de endereço. Memórias seriais (fifo, registradores de deslocamento) Subsistemas de propósito especiais: empacotamento. Potência. Clock. Plls. I/O; Metodologias de projetos: estratégias de projeto estruturado. Métodos de projeto. Fluxos de projeto. Sistemas econômicos, datas heets e documentação; Teste de circuitos integrados digitais: introdução. Verificação lógica. Teste pós-fabricação. Design for testability. Boundary scan; Linguagem de descrição de hardware; Ferramentas CAD. |
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