| Ementa/Descrição: |
Fundamentos da difração de raios X e caracterização estrutural de materiais; Natureza, características e produção de raios-X; interação de raio-X com a matéria e seu uso como ferramenta para caracterização estrutural de materiais. Cristalografia básica. Aspectos físicos da difração pela matéria condensada. Principais técnicas de difração e aplicações típicas em análise de materiais (identificação de fases, determinação de estrutura cristalina, difração por materiais não cristalinos, orientação de cristais, tamanho de partículas e tensões residuais). Análise de materiais por fluorescência de Raio-X. |
