ESTUDO SOBRE PLANOS DE INSPEÇÃO MISTOS BASEADOS NO ÍNDICE Cpk
Plano de amostragem misto; Plano de amostragem repetitivo; Estatística amostral do Cpk; Distribuição truncada
Vários artigos dedicados aos planos de amostragens mistos utilizando o estimador amostral , do índice de capacidade do processo Cpk, constituíram o objeto de estudo desta pesquisa. Nos planos de amostragens mistos, uma amostra é submetida inicialmente a uma inspeção por atributos e, dependendo dos resultados, ela também é submetida a uma inspeção por variáveis. Ao submeter uma amostra à inspeção por atributos e após isso, submetê-la à inspeção por variáveis a distribuição da característica de qualidade X passa a ser truncada, dificultando a obtenção da distribuição do e consequentemente dos riscos α e β. Nos artigos pesquisados, os autores não se atentaram a essa questão. Além disso, utilizaram uma expressão incorreta para a função distribuição acumulada do estimador . Por meio de simulações de Monte Carlo descobriu-se que os planos de amostragens ótimos apresentados por estes autores levam a riscos de aceitação de lotes de má qualidade altíssimos, prejudicando, em muito, o comprador. Foi necessário refazer toda otimização dos planos de amostragens, verdadeiramente respeitando os riscos α e β. Durante as investigações, observou-se que o estimador amostral não necessariamente precisa ser em função dos limites de especificação. Ao se desvincular o estimador amostral das especificações, a otimização dos planos de amostragens passa a ter mais um grau de liberdade, gerando redução do número médio de itens inspecionados por lote.