PLANO DE AMOSTRAGEM DUPLA BASEADO NO Cpk PARA ACEITAÇÃO DE LOTES
Amostragem Simples Por Cpk; Amostragem Dupla Por Cpk; Amostragem Dupla Por Atributos; Normas De Inspeção Por Amostragem; Tamanho Médio Da Amostra.
A inspeção por amostragem tem reduzido esforços operacionais nas empresas durante o processo de aceitação/rejeição de lotes de itens provenientes dos fornecedores externos e/ou internos de produtos acabados e/ou em processo. Planos de amostragens baseados em estimativas amostrais do índice de capacidade do processo Cpk tem sido o foco de estudos recentes. Dentro desta vertente de pesquisa, propõe-se um plano de amostragem dupla baseado em estimativas amostrais do Cpk. No qual, de cada lote é escolhido uma amostra aleatória, e com as observações desta amostra de tamanho , obtêm-se , uma estimativa amostral do índice Cpk; se for menor (maior) que um limitante (), o lote será rejeitado (aceito), caso contrário, uma nova amostra de tamanho será aleatoriamente extraída do mesmo lote. Uma segunda estimativa , do índice Cpk, será então obtida com as observações desta segunda amostra e, finalmente, os valores de e determinarão a aceitação/rejeição do lote. A amostragem dupla baseada nas estimativas amostrais do índice Cpk se apresenta como uma alternativa interessante ao plano de amostragem dupla por atributos da norma NBR 5426, graças a uma redução bastante significativa no número de itens inspecionados por lote; em média, a redução gira em torno de 71%. Também apresenta, em média, uma redução de 21% no número de itens inspecionados em relação ao plano de amostragem simples baseado no Cpk